基板・部品検査の新製品集結=ネプコンジャパン

16/02/05

1月13―15日の3日間、東京・江東区の東京ビッグサイトで「ネプコンジャパン2016」が開催され、約3万人が来場した。会場では、基板や電子部品の外観検査に用いる技術・製品のほか、内部検査などに用いる最新のNDT装置が多数出展。主な出展社の見どころを紹介する。
【第1323号】

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