半導体製造用容器にUT適用

18/04/11

経済産業省は企業実証特例制度に基づき容器再検査制度の拡充を図る。半導体製造に用いる高純度ガス容器の新たな試験方法に関して、超音波探傷試験(UT)を規格として制定し 、同規格を高圧ガス保安法の体系の中に取り入れる。関係省令等を改正し、今年4月から一般化開始を予定する。
【第16211号】

TOP画面へ

お勧めの書籍